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賽多利斯超微量和微量天平是實驗室天平為稱量Z小樣品量和滿足Z高要求而設計的電子天平。他們同樣適用于稱量在較重容器中的樣品。特殊的微量天平版本可用于濾膜稱量。

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Quintix系列電子天平能夠自動檢測sartorius 標準打印機 YDP40。通過人 機對話式的用戶引導（例如 通過輸入正確的樣本 ID 編 號），Quintix 能夠幫助打印機輸出無差錯的結果。